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半导体参数分析系统半导体分立器件测试仪 BXT2931C 北京北信通微电子公司 BXT2931C 北京市中关村东路123号价格￥150000元文字版

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	BXT2931C基本介绍

商品名称：

半导体参数分析系统

型　　号：

BXT2931C

商品品牌：

北京北信通微电子公司

商品产地：

北京市中关村东路123号

尺　　寸：

见简介

市场价：

150000 元

会员价：

150000 元

单　　位：

套

	半导体参数分析系统BXT2931C 细节说明

	BXT2931C 半导体参数测量分析系统是由北京市北信通微电子系统公司与北京大学微电子所共同开发，系统由微型计算机控制的，用于多类半导体器件如二极管、三极管、场效应管、光电器件，以及化合物半导体器件、HEMT、SOI器件、异质结器件、晶片、IC等直流参数的测量和分析以及基于PDO技术的纳米薄膜材料缺陷分析的科学测量系统。内嵌DSP，增加总线宽度，提高测量速度；控制软件满足用户灵活多变的测试需求；已通过权威校准机构的认可。(功能同等于安捷伦4156、Keithley4200）该系统已应用于摩托罗拉、华晶集团、贝岭微电子公司、骊山微电子公司的MOS器件性能失效分析，取得了预期的效果。


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北京北信通微电子公司

联系人：张伟

电　话：13661179638 010-62159037-808

地　址：北京市中关村东路123号

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